[pt] A reflectometria coerente tem se mostrado uma importante
técnica para caracterização dos dispositivos ópticos e
optoeletrônicos presentes nos sistemas de comunicações.
Neste trabalho, a reflectometria coerente no domínio da
freqüência foi utilizada no estudo das características dos
lasers de semicondutor de realimentação distribuída.
Foram realizadas medidas da resposta térmica do módulo
laser, da linearidade da varredura em freqüência e da
instabilidade de freqüência devido às reflexões da luz nas
conexões do sistema. Conhecendo estas informações é
possível saber algumas limitações da técnica. Todas as
medidas de caracterização são feitas de formas simples e
prática. / [en] Coherente reflectometry has been an important technique
for characterization of optinal and optoeletronics devices
used in communications systems.
In this work, Coherente frequency domain reflectometry was
used in the study of the Distributed-Feedback
Semiconductor lasers characteristics. The measurement of
thermal response of the laser module, linearity of the
frequency sweep and frequency instabilities induced by
feedback light reflected at the systems conections was
was done. With these informations it is possible to know
some limitations of the technique.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:puc-rio.br/oai:MAXWELL.puc-rio.br:8633 |
| Date | 05 July 2006 |
| Creators | ADELA ALENCAR SAAVEDRA |
| Contributors | JEAN PIERRE VON DER WEID |
| Publisher | MAXWELL |
| Source Sets | PUC Rio |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | TEXTO |
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