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Diffraction Measurements of Residual Macrostress and Microstress Using X-Rays, Synchrotron and Neutrons

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Identiferoai:union.ndltd.org:NAGOYA/oai:ir.nul.nagoya-u.ac.jp:2237/9178
Date07 1900
CreatorsTANAKA, Keisuke, AKINIWA, Yoshiaki
PublisherThe Japan Society of Mechanical Engineers
Source SetsNagoya University
LanguageEnglish
Detected LanguageEnglish
TypeArticle(publisher)
Rights日本機械学会, 本文データは学協会の許諾に基づきCiNiiから複製したものである。

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