Einfluss der Oxidqualität auf die Stabilität von Halbleiterdetektoren bei Röntgenbestrahlung

Description

München, Techn. Universiẗat, Diss., 2004.

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1. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=970792085
2. http://tumb1.biblio.tu-muenchen.de/publ/diss/ph/2004/pahlke.pdf
3. http://tumb1.biblio.tu-muenchen.de/publ/diss/ph/2004/pahlke.html

Tags

Siliciumdetektor

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76484554
Date	January 2004
Creators	Pahlke, Andreas.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Source	LF