Analyses quantitatives par SIMS dans le mode secondaire négatif

Description

Thèse de doctorat : Science et ingénierie des matériaux : Vandoeuvre-les-Nancy, INPL : 2005. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr.

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1. http://www.scd.inpl-nancy.fr/theses/2005_PHILIPP_P.pdf

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/491633310
Date	January 2005
Creators	Philipp, Patrick Scherrer, Hubert.
Publisher	Vandoeuvre-les-Nancy : INPL,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French