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Statistische Qualitätskontrolle : ASN-optimale zweifache Attributprüfpläne /

Zugl.: Hamburg, Helmut-Schmidt-Universiẗat, Diss., 2008 u.d.T.: Köhler, Jörg: ASN-optimale zweifache Attributprüfpläne.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/263409848
Date January 2008
CreatorsKöhler, Jörg.
PublisherHamburg : Kovač
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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