Caractérisation et simulation de la susceptibilité des circuits intégrés face aux risques d'inductions engendrées par des micro-ondes de forte puissance

Description

Reproduction de : Thèse de doctorat : Électronique : Lille 1 : 2005. / N° d'ordre (Lille 1) : 3684. Titre provenant de la page de titre du document numérisé. Bibliogr. p. 193-196. Liste des communications.

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1. https://iris.univ-lille1.fr/dspace/handle/1908/176

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Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/495197153
Date	January 2007
Creators	Bazzoli, Sébastien Démoulin, Bernard.
Publisher	Villeneuve d'Ascq : Université des sciences et technologies de Lille,
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French