Méthodes actuelles des tests non déterministes de systèmes logiques. Méthode d'analyse du test aléatoire de circuits séquentiels. Etude du test aléatoire de circuits séquentiels intégrés (ssi, msi). Exemples d'influence des probabilités des entrées sur la largeur de la séquence de test.
Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00288718 |
Date | 15 February 1978 |
Creators | Thevenod Fosse, Pascale |
Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
Language | French |
Detected Language | French |
Type | PhD thesis |
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