L’objectif de cette thèse est de développer une stratégie de test globale pour réduire le cout du test tout en garantissant une couverture de test complète. On s’intéressera plus particulièrement aux communications millimétriques à base de modulation OFDM. Les investigations devront être orientées vers l’implémentation de « BIST » dans le circuit pour relaxer les contraintes sur l’environnement de test. L’environnement de test est composé de l’ATE et de l’interface de test. Pour relaxer les contraintes sur l’environnement de test et ainsi réduire le cout du test, notre approche est d’opter pour un « ATE » standard » et d’implémenter le minimum possible de composants dans l’interface de test. Les spécifications des BIST et éventuellement des modules à implémenter dans l’interface de test devront être suffisamment précis et réalistes pour permettre une implémentation physique. Pour atteindre ces objectifs notre approche est de s’appuyer sur les modèles des différents blocs et de procéder à des simulations appropriées pour identifier les paramètres de test pertinents d’abord et ensuite proposer une solution de test qui permet de mesurer chaque paramètre. Les paramètres de test pertinents sont les paramètres qui permettent de tester le système de communication en un temps minimal avec une couverture de test convenable. Ces paramètres de test peuvent être déterminés en combinant le test fonctionnel au test structurel. Le test fonctionnel permet de détecter l’existence de fautes catastrophiques en un minimum de temps et le test structurel permet de localiser les fautes catastrophiques et de déterminer les performances individuelles des blocs critiques pour améliorer le rendement. Pour le test structurel, les performances individuelles des blocs critiques peuvent être déterminées directement au moyen de BIST dédiés ou indirectement en procédant à une corrélation entre les paramètres des blocs et un paramètre global tel que l’EVM ou tout autre type de paramètre adapté. / The thesis' goal is to develop global test strategy in order to reduce test cost and ensure total test cover. OFDM millimeter communications will a point of interest in this thesis. The investigation has to reach the circuit BIST implementation to release constraint over test environment. The test environment contains ATE and test interface. Our approach consists in using a standard ATE and implementing few components on test interface. BIST specification and modules of test interface must be precise and realistic in order to ensure the physical implementation. To reach these goal, we will first rely on models of different blocks and appropriate simulations to identify relevant test parameters. Secondly, we will produce test solution that ensure the measure of each relevant parameters. Relevant test parameters are parameters that allow to test the system quickly, wih maximal test cover. These parameters can be computed using both functional model and structural model. Functional model is used to detect catastrophic faults, and structural model determines each blocks performance to improve efficiency. Dealing with structural test, individual block performances can be determined using BIST, or computing correlation between local blocks parameters and global system parameters (ie. EVM, or any relevant parameter).
| Identifer | oai:union.ndltd.org:theses.fr/2016GREAT078 |
| Date | 22 September 2016 |
| Creators | Verdy, Matthieu |
| Contributors | Grenoble Alpes, Lesecq, Suzanne, Morche, Dominique |
| Source Sets | Dépôt national des thèses électroniques françaises |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | Electronic Thesis or Dissertation, Text |
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