Spurenbestimmung metallischer Verunreinigungen in [gamma]-TiAl [Gamma-TiAl] und den hochreinen Ausgangsmaterialien Al und Ti mittels ICP-Massenspektrometrie

Description

Hannover, Universiẗat, Diss., 2002.

Links & Downloads

1. http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e01dh01/349220271.pdf
2. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=965453219

Tags

Titanaluminide

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76427085
Date	January 2002
Creators	Majewski, Tom.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German