Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica

Description

Orientador: Vitor Baranauskas / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-08-03T16:29:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1
JingGuo_Zhao_D.pdf: 1072525 bytes, checksum: 187cf6bcaca16a2f362527ac4d87c3d5 (MD5)
Previous issue date: 2003 / Doutorado

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1. (Broch.)
2. JING GUO, Zhao. Caracterização de amostras rugosas por microscopia de força atomica. 2003. 32p. Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação, Campinas, SP. Disponível em: <http://www.repositorio.unicamp.br/handle/REPOSIP/260318>. Acesso em: 3 ago. 2018.
3. http://repositorio.unicamp.br/jspui/handle/REPOSIP/260318

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Ciência dos materiais

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Microscopia de força atômica

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Identifer	oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/260318
Date	03 August 2018
Creators	Jing Guo, Zhao
Contributors	UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Baranauskas, Vitor, 1952-2014
Publisher	[s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação
Source Sets	IBICT Brazilian ETDs
Language	Portuguese
Detected Language	Portuguese
Type	info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis
Format	32p. : il., application/pdf
Source	reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP
Rights	info:eu-repo/semantics/openAccess