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Caracterização de defeitos de soldagem através da análise fractal de sinais ultra-sônicos obtidos pela técnica TOFD

FERREIRA, W. M. Caracterização de defeitos de soldagem através da análise fractal de sinais ultra-sônicos obtidos pela técnica TOFD. 2004. 129 f. Dissertação (Mestrado em Engenharia e Ciência de Materiais) - Centro de Tecnologia, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2004. / Submitted by Marlene Sousa (mmarlene@ufc.br) on 2012-04-25T18:48:35Z
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Previous issue date: 2004-10 / The present work aims to characterize welding defects (lack of fusion, incomplete
penetration and porosity) inserted in specimens during the welding process, by
means of the fractal analysis of ultrasonic signals obtained by using the TOFD
technique. In order to eliminate the noise, the signals have been treated by two
different filtering methods, namely, band pass and Savitzky-Golay. In the fractal
characterization of the signals, three methods have been used: Hurst’s analysis,
detrended fluctuation analysis and minimal cover analysis. In all three methods,
filtered isolate signals and filtered concatenate signals have been considered. The
characteristic parameters of the scaling regions, for each analysis, have been
calculated by using linear regression, and the standard deviation of the signals has
also been determined. The characterization of all defects has been determined from
the parameters obtained for the signals filtered by using Savitzky-Golay and for the
concatenate signals filtered by using band pass. It is also shown that, ´within this
fractal analysis, the best discrimination is obtained by using Savitzky-Golay method. / O presente trabalho tem como objetivo caracterizar diferentes defeitos de soldagem
(falta de fusão, falta de penetração e porosidade) inseridos em corpos de prova
durante o processo de soldagem, através da análise fractal de sinais ultra-sônicos
obtidos pela técnica TOFD. Para eliminar os ruídos, os sinais foram tratados usando
dois métodos de filtragem, passa banda e Savitzky-Golay. Na análise fractal dos
sinais foram utilizados três métodos: análise de Hurst, análise de flutuação sem
tendências e análise de cobertura mínima. Nos três métodos foram considerados
sinais filtrados isoladamente, bem como sinais filtrados concatenados. Os
parâmetros característicos das regiões de escala, para cada tipo da análise, foram
calculados através de regressões lineares, sendo também determinado o desvio
padrão de cada sinal. A caracterização de todos os defeitos foi determinada através
dos parâmetros obtidos para os sinais filtrados pelo método Savitzky-Golay e para os
sinais concatenados filtrados pelo método passa banda. Foi também mostrado que,
no contexto dessa análise fractal, a melhor discriminação foi obtida utilizando o
método de Savitzky-Golay.

Identiferoai:union.ndltd.org:IBICT/oai:www.repositorio.ufc.br:riufc/2539
Date10 1900
CreatorsFerreira, Waydson Martins
ContributorsMoura, Elineudo Pinho de, Gonçalves, Lindberg Lima
Source SetsIBICT Brazilian ETDs
LanguagePortuguese
Detected LanguagePortuguese
Typeinfo:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis
Sourcereponame:Repositório Institucional da UFC, instname:Universidade Federal do Ceará, instacron:UFC
Rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess

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