Dans le domaine du test de circuits complexes, a la fin des annees 70 apparait le concept de test fonctionnel : batir un test a partir seulement des fonctions realisees par le circuit en s'affranchissent completement de sa structure. La formidable evolution des microprocesseurs a mis ceux-ci au centre du debat suivant : comment realiser un test fonctionnel de tels circuits ? Bien que de nombreuses methodes de test fonctionnel de microprocesseurs aient ete proposees, un aspect important semble avoir ete neglige : la mesure de l'efficacite de ces methodes. Les rares tentatives effectuees dans ce domaine se sont basees sur un principe d'injection de fautes de collage dans des modeles de simulation du circuit a tester. Dans cette these l'efficacite du test fonctionnel est etudiee par une methode basee sur l'injection de defauts a lÕaide dÕequipements laser dans des circuits reputes bons. Le but est de constituer un echantillon realiste de circuits defectueux, possedant chacun un defaut plausible a un emplacement aleatoire. Diverses experiences realisees sur des microprocesseurs 8-bits et 16-bits du commerce (Motorola 6800 et 68000) sont presentees et permettent de tirer des conclusions sur la methode d'injection de defauts et sur l'efficacite du test fonctionnel par rapport a celle du test structurel du fabricant. Ceci aboutit a l'identification de ce qui est le role veritable du test fonctionnel pour les circuits complexes : l'aide a la validation de conception et au diagnostic.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00004726 |
| Date | 24 November 1992 |
| Creators | Martinet, Bernard |
| Source Sets | CCSD theses-EN-ligne, France |
| Language | French |
| Detected Language | French |
| Type | PhD thesis |
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