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NOUVELLES METHODES D'IMAGERIE HAUTE RESOLUTION POUR L'ANALYSE DES COMPOSANTS NANOELECTRONIQUES

Ce travail de thèse a contribué au développement de la techniques de test par faisceau laser en mode d'absorption deux photons (TPA). Cette technique a plus spécifiquement été utilisée pour la détection de défauts et l'injection de fautes dans les circuits intégrés.

Identiferoai:union.ndltd.org:CCSD/oai:tel.archives-ouvertes.fr:tel-00997436
Date02 October 2012
CreatorsShao, Kai
PublisherUniversité Sciences et Technologies - Bordeaux I
Source SetsCCSD theses-EN-ligne, France
Languagefra
Detected LanguageFrench
TypePhD thesis

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