Die komplexen Strukturen von MEMS-Drehratensensoren führen immer wieder zu Herausforderungen bei der Systembeschreibung. Die zunehmende Miniaturisierung der Bauteile steigert den Einfluss von mechanischen Nichtlinearitäten und AVT-Einflüssen. Daher sind ein tiefer gehendes Verständnis dieser Effekte und verbesserte Simulationsmethoden zur effizienten Entwicklung neuer Sensoren von großer Bedeutung.
In dieser Arbeit wird die TPWL-Methode, ein Ansatz für ein transientes nichtlineares ROM, vorgestellt und erfolgreich auf MEMS-Drehratensensoren angewendet. Im Fokus der Untersuchungen stehen die Implementierung der Methode und die Zeitersparnis gegenüber FE-Simulationen - diese beträgt bis zu 3 Größenordnungen. Weiterhin finden sich Untersuchungen der ROM-Daten, mit einem Schwerpunkt auf deren Interpretation, in den Ausführungen. Hierdurch werden Limitierungen, Rahmenbedingungen und Aussagekraft der Methodik aufgezeigt. Diese Erkenntnisse ermöglichen es, zukünftige Simulationen durch geeignet gewählte Parameter und Trainingsdaten effektiv aufzusetzen. Es werden TPWL-Ansätze auf Basis von POD und modaler Superposition verglichen, um systematische Vorteile der POD zu erklären. Die Validierung der Modelle erfolgt qualitativ sowie mit Messungen, analytischen und FE-Rechnungen.
Bestehende Ansätze zur Simulation von AVT-Einflüssen, mit einem Schwerpunkt auf mechanischen Stresswirkpfaden, auf MEMS-Drehratensensoren werden untersucht und erweitert. Als Basis für Package- und statische Struktursimulationen dienen FE-Modelle und für die transiente Systemsimulation ein ROM. Es stehen Verständnis und Analyse der Wirkpfade im Vordergrund. Die resultierenden Erkenntnisse werden erfolgreich in die Modelle eingebracht. Ein einfacher, dennoch aussagekräftiger Ansatz zur Abschätzung des Drehraten-Offsets gestresster Sensoren wird vorgestellt. Zudem wird ein vielversprechendes neuartiges FE-Modell zur Simulation von Die-attach- und Lötsimulationen hergeleitet. Oberflächen- und Signalmessungen von durch eine Leiterplattenbiegung gestressten Sensoren dienen zur Validierung.
Die vorgestellten Modelle werden erfolgreich validiert und können zukünftig zur Optimierung des Entwicklungsprozesses von MEMS-Drehratensensoren verwendet werden.:Abkürzungen und Symbole
I. Einführung, Grundlagen und Methoden
1. Einleitung
1.1. Hintergrund und aktuelle Entwicklung
1.2. Motivation und Zielsetzung der Arbeit
1.3. Struktur der Arbeit
2. Grundlagen MEMS
2.1. Definition der Mikrosystemtechnik
2.2. Technologie und Aufbau von MEMS Bausteinen
2.3. Funktionsprinzipien und physikalischen Grundlagen von MEMS-Gyroskopen
3. Rechenmodelle für mechanische Systeme
3.1. Analytische Rechnungen mithilfe der Balkentheorie
3.2. Finite-Elemente-Methode
3.3. Ordnungsreduktionsverfahren
3.4. Ordnungsreduzierte Systemmodelle in der Signalflusssimulation
II. Mechanische Nichtlinearitäten
4. Nichtlinearitäten in MEMS-Gyroskopen
4.1. Einleitung und Motivation
4.2. Gegenüberstellung nichtlinearer Effekte und deren Einflüsse auf MEMS-Gyroskope
4.3. Konzepte zur Vermeidung von Stress-Stiffening und deren Grenzen
5. Methoden zur Simulation mechanischer Nichtlinearitäten
5.1. Nichtlineare Effekte in der FE-Rechnung
5.2. Konzept der Trajectory Piecewise Linearization
5.3. Werkzeuge zur Implementierung eines TPWL-Verfahrens in die Systemsimulation
5.4. Generierung einer ordnungsreduzierten TPWL-Simulation von Drehratensensoren
6. Die Trajectory Piecewise Linearization in der Praxis
6.1. Beidseitig eingespannter Biegebalken in der TPWL mit POD
6.2. Die TPWL anhand eines perforierten Einmassenschwingers
6.3. Untersuchung einer stark nichtlinearen Sensorgeometrie
III. Einfluss von mechanischem Stress durch die Aufbau- und Verbindungstechnik auf Sensoren und Sensor-Packages
7. Messungen und Simulationen in der AVT
7.1. Einleitung und Motivation
7.2. Einfluss von mechanischem Stress auf die Sensorgeometrie
7.3. Schema einer Stresssimulation
7.4. Experimentelles Setup
7.5. Viskoelastische Eigenschaften in Experiment und Simulation
8. FE-Package Simulationen
8.1. Annahmen
8.2. Struktur und Inhalt einer FE-Package-Simulation
8.3. CAD-Modellierung und Vernetzung
8.4. Prozesssimulationen
8.5. Biegesimulation
8.6. Validierung durch Weißlichtinterferometrie
9. FE-Modelle von MEMS Strukturen
9.1. Transfer des AVT Stresses aus den Package Simulationen
9.2. Stresseinfluss auf Eigenfrequenzen
10.Berücksichtigung von AVT-Einflüssen in Signalflusssimulationen
10.1. Signalflussmodelle mit AVT-Einfluss
10.2. Sensormoden und Dämpfungsmatrix
10.3. Validierung der Modelle anhand des Closed-Loop Systems
10.4. Simulation des Dreikanalsensors
IV. Abschluss
11.Zusammenfassung
11.1. Mechanische Nichtlinearitäten
11.2. Einfluss der Aufbau- und Verbindungstechnik
12.Fazit und Ausblick
V. Anhang
A. Faktoren der Newmark-Integration
B. Einfluss der Samplingrate auf die Schwingungsfrequenz in einer transienten FE-Simulation
C. Ergebnisstabellen zu Kapitel 6.1
D. Einseitig eingespannter Biegebalken mit Streckbiegung
D.1. Aufbau des Systems
D.2. Systemtraining
D.3. Systemsimulation und Auswertung
D.4. Fazit
E. Modenabbildungen zu Kapitel 6.2
F. Vergleich von TPWL und linearer Ordnungsreduktion mit nichtlinearen Kräften
G. Modellbeispiel Schwingungsform
H. Mathematische Ergänzungen
I. Einfluss von Prozessparametern
Quellenangaben
Tabellenverzeichnis
Abbildungsverzeichnis
Danksagung
Versicherung
Thesen / The complex structures of MEMS yaw-rate sensors continuously lead to challenges in their system description. The continuing miniaturization of the components increases the effects of mechanical nonlinearities and packaging influences. Therefore, a deeper understanding of these effects and improved simulation methods are of great importance for the efficient development of new sensors.
In this work the TPWL-method, an approach for a transient nonlinear ROM, is introduced and successfully applied to MEMS yaw-rate sensors. The focal points of the study, are the implementation of the method, and the time savings compared to FE-simulations; which are up to 3 magnitudes. Furthermore, the analysis of the ROM-data with a focus on its interpretation is included. This highlights limits, boundary conditions and the informative value of the method. These insights enable the future set up of simulations effectively with appropriately chosen parameters and training data. TPWL-approaches with POD and modal superposition are compared to highlight systematic advantages of the POD. The validation of the models is realized qualitatively as well as with measurements, analytical and FE-calculations.
Existing approaches for the simulation of packaging influences with a focal point on mechanical stress root causes are studied and extended. As a baseline for package and static structure simulations FE-models are used, and for transient system simulations a ROM is used. Understanding and analysis of the root causes stand in the foreground. The resulting insights are successfully implemented into the models. A simple but significant approach for an estimation of the yaw-rate offset of stressed sensors is introduced. Additionally, a promising and new FE-model for the simulation of die attach and solder simulations is derived. Surface and signal measurements of sensors, stressed by the bending of a printed circuit board, serve for validation.
The introduced models were validated successfully and can be used in the future to optimize the development process of MEMS yaw-rate sensors.:Abkürzungen und Symbole
I. Einführung, Grundlagen und Methoden
1. Einleitung
1.1. Hintergrund und aktuelle Entwicklung
1.2. Motivation und Zielsetzung der Arbeit
1.3. Struktur der Arbeit
2. Grundlagen MEMS
2.1. Definition der Mikrosystemtechnik
2.2. Technologie und Aufbau von MEMS Bausteinen
2.3. Funktionsprinzipien und physikalischen Grundlagen von MEMS-Gyroskopen
3. Rechenmodelle für mechanische Systeme
3.1. Analytische Rechnungen mithilfe der Balkentheorie
3.2. Finite-Elemente-Methode
3.3. Ordnungsreduktionsverfahren
3.4. Ordnungsreduzierte Systemmodelle in der Signalflusssimulation
II. Mechanische Nichtlinearitäten
4. Nichtlinearitäten in MEMS-Gyroskopen
4.1. Einleitung und Motivation
4.2. Gegenüberstellung nichtlinearer Effekte und deren Einflüsse auf MEMS-Gyroskope
4.3. Konzepte zur Vermeidung von Stress-Stiffening und deren Grenzen
5. Methoden zur Simulation mechanischer Nichtlinearitäten
5.1. Nichtlineare Effekte in der FE-Rechnung
5.2. Konzept der Trajectory Piecewise Linearization
5.3. Werkzeuge zur Implementierung eines TPWL-Verfahrens in die Systemsimulation
5.4. Generierung einer ordnungsreduzierten TPWL-Simulation von Drehratensensoren
6. Die Trajectory Piecewise Linearization in der Praxis
6.1. Beidseitig eingespannter Biegebalken in der TPWL mit POD
6.2. Die TPWL anhand eines perforierten Einmassenschwingers
6.3. Untersuchung einer stark nichtlinearen Sensorgeometrie
III. Einfluss von mechanischem Stress durch die Aufbau- und Verbindungstechnik auf Sensoren und Sensor-Packages
7. Messungen und Simulationen in der AVT
7.1. Einleitung und Motivation
7.2. Einfluss von mechanischem Stress auf die Sensorgeometrie
7.3. Schema einer Stresssimulation
7.4. Experimentelles Setup
7.5. Viskoelastische Eigenschaften in Experiment und Simulation
8. FE-Package Simulationen
8.1. Annahmen
8.2. Struktur und Inhalt einer FE-Package-Simulation
8.3. CAD-Modellierung und Vernetzung
8.4. Prozesssimulationen
8.5. Biegesimulation
8.6. Validierung durch Weißlichtinterferometrie
9. FE-Modelle von MEMS Strukturen
9.1. Transfer des AVT Stresses aus den Package Simulationen
9.2. Stresseinfluss auf Eigenfrequenzen
10.Berücksichtigung von AVT-Einflüssen in Signalflusssimulationen
10.1. Signalflussmodelle mit AVT-Einfluss
10.2. Sensormoden und Dämpfungsmatrix
10.3. Validierung der Modelle anhand des Closed-Loop Systems
10.4. Simulation des Dreikanalsensors
IV. Abschluss
11.Zusammenfassung
11.1. Mechanische Nichtlinearitäten
11.2. Einfluss der Aufbau- und Verbindungstechnik
12.Fazit und Ausblick
V. Anhang
A. Faktoren der Newmark-Integration
B. Einfluss der Samplingrate auf die Schwingungsfrequenz in einer transienten FE-Simulation
C. Ergebnisstabellen zu Kapitel 6.1
D. Einseitig eingespannter Biegebalken mit Streckbiegung
D.1. Aufbau des Systems
D.2. Systemtraining
D.3. Systemsimulation und Auswertung
D.4. Fazit
E. Modenabbildungen zu Kapitel 6.2
F. Vergleich von TPWL und linearer Ordnungsreduktion mit nichtlinearen Kräften
G. Modellbeispiel Schwingungsform
H. Mathematische Ergänzungen
I. Einfluss von Prozessparametern
Quellenangaben
Tabellenverzeichnis
Abbildungsverzeichnis
Danksagung
Versicherung
Thesen
| Identifer | oai:union.ndltd.org:DRESDEN/oai:qucosa:de:qucosa:70546 |
| Date | 07 May 2020 |
| Creators | Dorwarth, Markus |
| Contributors | Mehner, Jan, Schrag, Gabriele, Schmidt, Benjamin, Technische Universität Chemnitz, Robert Bosch GmbH |
| Source Sets | Hochschulschriftenserver (HSSS) der SLUB Dresden |
| Language | German |
| Detected Language | German |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, doc-type:doctoralThesis, info:eu-repo/semantics/doctoralThesis, doc-type:Text |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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