Dissertação (mestrado) - Universidade Federal de Santa Catarina, Centro Tecnológico. Programa de Pós-Graduação em Metrologia Científica e Industrial. / Made available in DSpace on 2012-10-21T18:36:00Z (GMT). No. of bitstreams: 1
212593.pdf: 2706208 bytes, checksum: 696799a33d4746badbe150135f9d408d (MD5) / A crescente competição mercadológica mundial e o atual cenário da indústria eletrônica no qual os produtos tornam-se cada vez mais complexos e os índices de qualidade e confiabilidade cada vez mais apertados, apontam para uma situação na qual a necessidade da utilização de técnicas que auxiliem na construção da confiabilidade de um produto desde as primeiras fases do seu
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.ufsc.br:123456789/87341 |
| Date | January 2004 |
| Creators | Luca, Luciana Veloso de |
| Contributors | Universidade Federal de Santa Catarina, Donatelli, Gustavo Daniel |
| Publisher | Florianópolis, SC |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 125 f.| il. |
| Source | reponame:Repositório Institucional da UFSC, instname:Universidade Federal de Santa Catarina, instacron:UFSC |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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