Orientador: Yuzo Iano / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-08-22T04:02:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 2013 / Resumo: A área que trata de detectar falhas mecânicas em circuito impresso é, atualmente, de grande importância. Isso se deve ao fato de que cada dia as empresas procuram de novas maquinas mais eficientes e rápidas para detectar falhas em placas. Existem diferentes tipos de falhas mecânicas em placas de circuitos impressos, como por exemplo, falta de componentes, falta de soldadura, má colocação de dispositivos, etc. Este trabalho dará uma contribuição para solucionar o problema de má colocação de dispositivos nas placas de circuito impresso. Para isso serão usadas imagens de placas de circuito impresso e será usado um algoritmo de detecção de características chamado SIFT o qual será modificado para esse propósito. A modificação do método SIFT será na etapa de matching (encontrar correspondências semelhantes entre duas imagens) e será desenvolvido um algoritmo usando métodos geométricos para eliminar as correspondências que não pertencem à mesma característica. Será comparado o SIFT modificado com os métodos SURF, SIFT e RANSAC para determinar seu desempenho em variações de escala, rotação, ruído gaussiano e brilho. Será usado o método SIFT desenvolvido neste trabalho para solucionar o problema de má colocação de dispositivos em placas de circuito impresso / Abstract: The area which comes to detect mechanical failures in printed circuit board is currently of great importance. This is due to the fact that every day companies seek new machines more efficient and quick to detect flaws in printed circuit boards. There are different types of mechanical faults in printed circuit boards, such as lack of components, poor weld, and bad placement devices and so on. This work will provide a contribution to solve the problem of poor placement of devices on printed circuit boards. For this, are used images of printed circuit boards and will use a method of feature detection called SIFT which will be modified for our purpose. The modification of the method SIFT is in the stage of matching (finding similar correspondences between two images) and will be developed an algorithm using geometric methods to eliminate the matches that do not belong to the same feature. Will be compared the modified SIFT with the methods SURF, SIFT and RANSAC to determine their performance in variations of scale, rotation, Gaussian noise and brightness. The SIFT method developed in this work will be used to solve the problem of poor placement of devices on printed circuit boards / Mestrado / Telecomunicações e Telemática / Mestre em Engenharia Elétrica
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/260051 |
| Date | 22 August 2018 |
| Creators | Canahuire Cabello, Frank Alexis, 1988- |
| Contributors | UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Iano, Yuzo, 1950-, Pelaes, Evaldo Gonçalves, Arthur, Rangel |
| Publisher | [s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 71 f. : il., application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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