Orientador: Alberto Martins Jorge / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-07-23T13:32:06Z (GMT). No. of bitstreams: 1
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Previous issue date: 1997 / Resumo: Devido a enorme gama de aplicações onde os espelhos SI são empregadas, tais como redes neurais, filtros, conversores D/A e ND, toma-se interessante a implementação de uma biblioteca de espelhos de corrente dinâmicos. Considerando-se o espelho SI como um bloco de uma biblioteca, tal como um flip-flop ou uma porta lógica, as aplicações onde ele é utilizada podem ser implementadas empregando-se uma metodologia "standard cell". Além disso, toma-se possível o projeto de circuitos analógicos mais complexos utilizando quase que somente um simulador comportamental, tipo o HDLA [16]. Para viabilizar a implementação desta biblioteca, é necessário a definição de uma metodologia de projeto para os espelhos, bem como encontrar soluções para as dificuldades na caracterização dos espelhos. Para definir a metodologia de projeto, são investigados e equacionados todos os problemas que acarretam erros na memorização da corrente e definidas alternativas para minimiza-los. Como conseqüência, obteve-se uma topologia de circuito que é facilmente ajustada em função da precisão e freqüência de operação do espelho. A precisão e a freqüência geralmente são grandezas inversamente proporcionais. As alternativas de projeto para os problemas que acarretam erros na cópia da corrente memorizada, são escolhidas de forma não implicar em grandes perdas na freqüência de operação, de tal forma que se possa obter espelhos de corrente dinâmicos de alta precisão e alta freqüência de operação. As soluções encontradas para a caracterização de espelhos SI levaram ao projeto de um sistema de medição, que permite a completa caracterização do espelho. No projeto do sistema de medição esta incluído o projeto de um circuito integrado de interface necessário para realizar as medições no espelho dinâmico. A caracterização dos protótipos dos circuitos de interface mostrou que o mesmo possui uma THD menor que 0,04%. O sistema de medição é capaz de caracterizar espelhos SI com precisão da ordem de 450 ppm operando a freqüência de 3 MHz / Mestrado / Mestre em Engenharia Elétrica
| Identifer | oai:union.ndltd.org:IBICT/oai:repositorio.unicamp.br:REPOSIP/261898 |
| Date | 18 December 1997 |
| Creators | Pereira, Adriano Marques |
| Contributors | UNIVERSIDADE ESTADUAL DE CAMPINAS, Jorge, Alberto Martins, 1943-, Rodriguez, Edgar Charry, Ferreira, Elnatan Chagas |
| Publisher | [s.n.], Universidade Estadual de Campinas. Faculdade de Engenharia Elétrica e de Computação, Programa de Pós-Graduação em Engenharia Elétrica |
| Source Sets | IBICT Brazilian ETDs |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | Portuguese |
| Type | info:eu-repo/semantics/publishedVersion, info:eu-repo/semantics/masterThesis |
| Format | 74 f. : il., application/pdf |
| Source | reponame:Repositório Institucional da Unicamp, instname:Universidade Estadual de Campinas, instacron:UNICAMP |
| Rights | info:eu-repo/semantics/openAccess |
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