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Quantitative subsurface defect evaluation by pulsed phase thermography: depth retrieval with the phase

La Thermographie de Phase Pulsée (TPP) est une technique d’Évaluation Non-Destructive basée sur la Transformée de Fourier pouvant être considérée comme étant le lien entre la Thermographie Pulsée, pour laquelle l’acquisition de données est rapide, et la Thermographie Modulée, pour laquelle l’extraction de la profondeur est directe. Une nouvelle technique d’inversion de la profondeur reposant sur l’équation de la longueur de diffusion thermique : μ=(α /πf)½, est proposée. Le problème se résume alors à la détermination de la fréquence de borne fb, c à d, la fréquence à laquelle un défaut à une profondeur particulière présente un contraste de phase suffisant pour être détecté dans le spectre des fréquences. Cependant, les profils de température servant d’entrée en TPP, sont des signaux non-périodiques et non-limités en fréquence pour lesquels, des paramètres d’échantillonnage Δt, et de troncature w(t), doivent être soigneusement choisis lors du processus de discrétisation du signal. Une méthodologie à quatre étapes, basée sur la Dualité Temps-Fréquence de la Transformée de Fourier discrète, est proposée pour la détermination interactive de Δt et w(t), en fonction de la profondeur du défaut. Ainsi, pourvu que l’information thermique utilisée pour alimenter l’algorithme de TPP soit correctement échantillonnée et tronquée, une solution de la forme : z=C1μ, peut être envisagée, où les valeurs expérimentales de C1 se situent typiquement entre 1.5 et 2. Bien que la détermination de fb ne soit pas possible dans le cas de données thermiques incorrectement échantillonnées, les profils de phase exhibent quoi qu’il en soit un comportement caractéristique qui peut être utilisé pour l’extraction de la profondeur. La fréquence de borne apparente f’b, peut être définie comme la fréquence de borne évaluée à un seuil de phase donné φd et peut être utilisée en combinaison avec la définition de la phase pour une onde thermique : φ=z /μ, et le diamètre normalisé Dn=D/z, pour arriver à une expression alternative. L'extraction de la profondeur dans ce cas nécessite d'une étape additionnelle pour récupérer la taille du défaut. / Pulsed Phase Thermography (PPT) is a NonDestructive Testing and Evaluation (NDT& E) technique based on the Fourier Transform that can be thought as being the link between Pulsed Thermography, for which data acquisition is fast and simple; and Lock-In thermography, for which depth retrieval is straightforward. A new depth inversion technique using the phase obtained by PPT is proposed. The technique relies on the thermal diffusion length equation, i.e. μ=(α /π·f)½, in a similar manner as in Lock-In Thermography. The inversion problem reduces to the estimation of the blind frequency, i.e. the limiting frequency at which a defect at a particular depth presents enough phase contrast to be detected on the frequency spectra. However, an additional problem arises in PPT when trying to adequately establish the temporal parameters that will produce the desired frequency response. The decaying thermal profiles such as the ones serving as input in PPT, are non-periodic, non-band-limited functions for which, adequate sampling Δt, and truncation w(t), parameters should be selected during the signal discretization process. These parameters are both function of the depth of the defect and of the thermal properties of the specimen/defect system. A four-step methodology based on the Time-Frequency Duality of the discrete Fourier Transform is proposed to interactively determine Δt and w(t). Hence, provided that thermal data used to feed the PPT algorithm is correctly sampled and truncated, the inversion solution using the phase takes the form: z=C 1 μ, for which typical experimental C 1 values are between 1.5 and 2. Although determination of fb is not possible when working with badly sampled data, phase profiles still present a distinctive behavior that can be used for depth retrieval purposes. An apparent blind frequency f’b , can be defined as the blind frequency at a given phase threshold φd , and be used in combination with the phase delay definition for a thermal wave: φ=z /μ, and the normalized diameter, Dn=D/z, to derive an alternative expression. Depth extraction in this case requires an additional step to recover the size of the defect. / La Termografía de Fase Pulsada (TFP) es una técnica de Evaluación No-Destructiva basada en la Transformada de Fourier y que puede ser vista como el vínculo entre la Termografía Pulsada, en la cual la adquisición de datos se efectúa de manera rápida y sencilla, y la Termografía Modulada, en la que la extracción de la profundidad es directa. Un nuevo método de inversión de la profundidad por TFP es propuesto a partir de la ecuación de la longitud de difusión térmica: μ=(α /π·f)½. El problema de inversion se reduce entonces a la determinación de la frecuencia límite fb (frecuencia a la cual un defecto de profundidad determinada presenta un contraste de fase suficiente para ser detectado en el espectro de frecuencias). Sin embargo, las curvas de temperatura utilizadas como entrada en TFP, son señales no-periódicas y no limitadas en frecuencia para las cuales, los parámetros de muestreo Δt, y de truncamiento w(t), deben ser cuidadosamente seleccionados durante el proceso de discretización de la señal. Una metodología de cuatro etapas, basada en la Dualidad Tiempo-Frecuencia de la Transformada de Fourier discreta, ha sido desarrollada para la determinación interactiva de Δt y w(t), en función de la profundidad del defecto. Así, a condición que la información de temperatura sea correctamente muestreada y truncada, el problema de inversión de la profundidad por la fase toma la forma : z=C 1 μ, donde los valores experimentales de C 1 se sitúan típicamente entre 1.5 y 2. Si bien la determinación de fb no es posible en el caso de datos térmicos incorrectamente muestreados, los perfiles de fase exhiben de cualquier manera un comportamiento característico que puede ser utilizado para la extracción de la profundidad. La frecuencia límite aparente f’b , puede ser definida como la frecuencia límite evaluada en un umbral de fase dado φd , y puede utilizarse en combinación con la definición de la fase para una onda térmica: φ=z /μ, y el diámetro normalizado Dn , para derivar una expresión alternativa. La determinación de la profundidad en este caso, requiere de una etapa adicional para recuperar el tamaño del defecto.

Identiferoai:union.ndltd.org:LAVAL/oai:corpus.ulaval.ca:20.500.11794/18116
Date11 April 2018
CreatorsIbarra Castanedo, Clemente
ContributorsMaldague, Xavier
Source SetsUniversité Laval
LanguageEnglish
Detected LanguageSpanish
Typethèse de doctorat, COAR1_1::Texte::Thèse::Thèse de doctorat
Formatapplication/pdf
Rightshttp://purl.org/coar/access_right/c_abf2

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