Return to search

Simulations- und Meßmethoden zur Bestimmung der Temperatur von LeistungsMOSFETs /

Techn. Univ., Diss.--Darmstadt, 1998. / Nebent.: Temperaturbestimmung auf LeistungsMOSFETs. Literaturverz. S. 165 - 174.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/245785830
Date January 1998
CreatorsSchepp, Oliver.
PublisherDüsseldorf : VDI-Verl.,
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

Page generated in 0.0026 seconds