Return to search

Untersuchung tiefer Störstellen in Zinkselenid mittels thermisch und optisch stimulierter Kapazitätstransientenspektroskopie

Chemnitz, Techn. Univ., Diplomarb., 1997.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/314373800
Date January 1997
CreatorsHellig, Kay.
Publisher[S.l. : s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman
TypeOnline-Publikation.

Page generated in 0.1611 seconds