Fiabilité fonctionnelle et mécanismes de dégradation des TRIACs soumis aux chocs thermiques par di/dt à la fermeture

Description

Thèse de doctorat : Electronique : Metz : 2001. / Thèse : 2001METZ037S. Bibliogr. p. 173-176.

Links & Downloads

1. ftp://ftp.scd.univ-metz.fr/pub/Theses/2001/Forster.Stephane.SMZ0137.pdf

Tags

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/492188352
Date	January 2001
Creators	Forster, Stéphane. Charles, Jean-Pierre.
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	French
Detected Language	French