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Étude d'une stratégie d'autotest intégré pour le compilateur de silicium SYCO

Reproduction de : Thèse de doctorat : Microelectronique : Grenoble, INPG : 1990. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 191-[198].

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/493637230
Date January 2008
CreatorsTorki, Kholdoun. Courtois, Bernard
PublisherS.l. : Université Grenoble 1,
Source SetsOCLC
LanguageFrench
Detected LanguageFrench

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