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Systemprojektierung und Bewertung von RFID-Anwendungen mit Hilfe von Ray Tracing

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2009

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/503456993
Date January 2009
CreatorsBosselmann, Patrick
PublisherHamburg Kovač
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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