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Systemprojektierung und Bewertung von RFID-Anwendungen mit Hilfe von Ray Tracing /

Zugl.: Aachen, Techn. Hochsch., Diss., 2009.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/634045569
Date January 2010
CreatorsBosselmann, Patrick.
PublisherHamburg : Kovač,
Source SetsOCLC
LanguageGerman
Detected LanguageGerman

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