Charakterisierung des Relaxationsverhaltens von Si1-xGex/Si(001)-Schichten mittels Röntgentopographie

Description

Berlin, Humboldt-Univ., Diss., 2001. / Computerdatei im Fernzugriff.

Links & Downloads

1. http://edoc.hu-berlin.de/dissertationen/pfeiffer-jens-uwe-2001-12-14/PDF/Pfeiffer.pdf
2. http://dochost.rz.hu-berlin.de/dissertationen/pfeiffer-jens-uwe-2001-12-14
3. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=965816303

Tags

Germanium Epitaxieschicht

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/638397412
Date	January 2001
Creators	Pfeiffer, Jens-Uwe.
Publisher	[S.l.] : [s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	Undetermined
Detected Language	German