Return to search

Sekundärionen-Massenspektrometrie an molekularen Schichten auf Polymersubstraten

Münster (Westfalen), Univ., Diss., 2003. / Computerdatei im Fernzugriff.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/638407026
Date January 2002
CreatorsKersting, Reinhard.
Publisher[S.l.] : [s.n.],
Source SetsOCLC
LanguageUndetermined
Detected LanguageGerman

Page generated in 0.0021 seconds