Grössenkontrollierte Herstellung von Silizium-Nanokristallen und ihre Charakterisierung

Description

Halle, Wittenberg, Universiẗat, Diss., 2003.

Links & Downloads

1. http://deposit.ddb.de/cgi-bin/dokserv?idn=96993114X
2. http://sundoc.bibliothek.uni-halle.de/diss-online/03/03H199/prom.pdf

Tags

Silicium

Additional Fields

Identifer	oai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/76676292
Date	January 2003
Creators	Heitmann, Johannes.
Publisher	[S.l. : s.n.],
Source Sets	OCLC
Language	German
Detected Language	German
Source	LF