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Quantitative subsurface defect evaluation by pulsed phase thermography: depth retrieval with the phase

Thèse (Ph.D.)--Université Laval, 2005. / Titre de l'écran-titre (visionné le 23 février 2006). Dans le résumé: le " 1/2 " de la formule "[mu]=([alpha] /[pi]f)1/2" est suscrit ; le " b " des symboles " fb " et " f'b "est souscrit ; le " 1 " de la formule " z=C1[mu] " et du symbole "C1" est souscrit ; le " n " de la formule " Dn=D/z " est souscrit. Bibliogr. Présenté aussi en version papier.

Identiferoai:union.ndltd.org:OCLC/oai:xtcat.oclc.org:OCLCNo/77047082
Date January 1900
CreatorsIbarra Castanedo, Clemente.
PublisherQuébec : Université Laval,
Source SetsOCLC
LanguageEnglish
Detected LanguageFrench

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