Práce se zabývá metodami pro testování lineárních analogových obvodů v kmitočtové oblasti. Cílem je navrhnout efektivní metody pro automatické generování testovacího plánu. Snížením počtu měření a výpočetní náročnosti lze výrazně snížit náklady za testování. Práce se zabývá multifrekveční parametrickou poruchovou analýzou, která byla plně implementována do programu Matlab. Vhodnou volbou testovacích kmitočtů lze potlačit chyby měření a chyby způsobené výrobními tolerancemi obvodových prvků. Navržené metody pro optimální volbu kmitočtů byly statisticky ověřeny metodou MonteCarlo. Pro zvýšení přesnosti a snížení výpočetní náročnosti poruchové analýzy byly vyvinuty postupy založené na metodě nejmenších čtverců a přibližné symbolické analýze.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:nusl.cz/oai:invenio.nusl.cz:233583 |
| Date | January 2013 |
| Creators | Kincl, Zdeněk |
| Contributors | Vlček, Čestmír, Husák, Miroslav, Kolka, Zdeněk |
| Publisher | Vysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií |
| Source Sets | Czech ETDs |
| Language | English |
| Detected Language | Unknown |
| Type | info:eu-repo/semantics/doctoralThesis |
| Rights | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess |
Page generated in 0.002 seconds