Return to search

Metody pro testování analogových obvodů / Methods for testing of analog circuits

Práce se zabývá metodami pro testování lineárních analogových obvodů v kmitočtové oblasti. Cílem je navrhnout efektivní metody pro automatické generování testovacího plánu. Snížením počtu měření a výpočetní náročnosti lze výrazně snížit náklady za testování. Práce se zabývá multifrekveční parametrickou poruchovou analýzou, která byla plně implementována do programu Matlab. Vhodnou volbou testovacích kmitočtů lze potlačit chyby měření a chyby způsobené výrobními tolerancemi obvodových prvků. Navržené metody pro optimální volbu kmitočtů byly statisticky ověřeny metodou MonteCarlo. Pro zvýšení přesnosti a snížení výpočetní náročnosti poruchové analýzy byly vyvinuty postupy založené na metodě nejmenších čtverců a přibližné symbolické analýze.

Identiferoai:union.ndltd.org:nusl.cz/oai:invenio.nusl.cz:233583
Date January 2013
CreatorsKincl, Zdeněk
ContributorsVlček, Čestmír, Husák, Miroslav, Kolka, Zdeněk
PublisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Source SetsCzech ETDs
LanguageEnglish
Detected LanguageUnknown
Typeinfo:eu-repo/semantics/doctoralThesis
Rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccess

Page generated in 0.0019 seconds