Return to search

Slepá Dekonvoluce Obrazu ve STEM Módu Elektronového Mikroskopu / Blind Image Deconvolution in STEM mode of Electron Microscope

Slepá dekonvoluce je metoda, při které je rozptylová funkce a skutečný obraz rekonstruován zároveň. Cílem této práce je představit různé metody slepé dekonvoluce a najít optimální metodu rekonstrukce původního obrazu a rozptylové funkce. Jako nejvhodnější metoda slepé dekonvoluce byl zvolen algoritmus střídavé minimalizace, který byl upraven a testován. Vlastnosti navrženého algoritmu byly testovány na uměle degradovaných datech a na reálných datech pořízených skenovacím transmisním elektronovým mikroskopem. Účinnost algoritmu byla hodnocena hned několika hodnotícími kritérii. Byla zjištěna omezení algoritmu a tím specifikováno jeho využití.

Identiferoai:union.ndltd.org:nusl.cz/oai:invenio.nusl.cz:377764
Date January 2018
CreatorsValterová, Eva
ContributorsWalek, Petr, Potočňák, Tomáš
PublisherVysoké učení technické v Brně. Fakulta elektrotechniky a komunikačních technologií
Source SetsCzech ETDs
LanguageEnglish
Detected LanguageUnknown
Typeinfo:eu-repo/semantics/masterThesis
Rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccess

Page generated in 0.0023 seconds