[pt] Reflectometria óptica de baixa coerência tem se tornado
uma importante ferramenta para a caracterização de
componentes ópticos e optoeletrônicos integrados, cujas
dimensões são micrométricos. Este trabalho inclui os
princípios básicos de reflectometria, um estudo
aprofundado de reflectometria óptica de baixa coerência,
uma revisão das técnicas demonstradas na literatura
cientifíca e suas resoluções e, principalmente, uma nova
topologia na montagem experimental.
Esta nova topologia permite que as mediadas sejam feitas
de maneira mais simples e eficaz. A resolução obtida ficou
tão boa que permitiu a visualização dos modos de
propagação TE E TM na cavidade de um laser semicondutor. / [en] Optical low Coherence Reflectometry has become an
important tool for the characterization of optical and
integrated optoeletronics components of dimensions on the
micrometer scale. This work includes the basic principles
of reflectometry, a detailed study of optical low
coherence reflectometry, a review of the techniques
reported in the literature and a new scheme for the
experimental set-up.
This new scheme has proved to be simpler and more
efficient. In addition the high resolution achieved
allowed the visual observation of the TE and TM
propagation modes in the semiconductior cavity.
| Identifer | oai:union.ndltd.org:puc-rio.br/oai:MAXWELL.puc-rio.br:8655 |
| Date | 10 July 2006 |
| Creators | JOSE AUGUSTO PEREIRA DA SILVA |
| Contributors | JEAN PIERRE VON DER WEID |
| Publisher | MAXWELL |
| Source Sets | PUC Rio |
| Language | Portuguese |
| Detected Language | English |
| Type | TEXTO |
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