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[en] CHARACTERIZATION OF OPTICAL WAVEGUIDES WITH LOW COHERENCE REFLECTOMETRY / [pt] CARACTERIZAÇÃO DE GUIAS ÓTICOS COM REFLECTOMETRIA DE BAIXA COERÊNCIA

[pt] Reflectometria Ótica de Baixa Coerência (OLCR) é uma
importante técnica não-destrutiva para a caracterização de
guias de onda óticos. Este trabalho apresenta um estudo
sobre a multiplicação de soluções que aparecem com uma
nova configuração, que coloca o dispositivo fora dos
braços do interferômetro. Duas técnicas foram
desenvolvidas para resolver esse problema. Uma delas é
baseada na correlação de medidas feitas com o dispositivo
em duas posições diferentes. A outra técnica elimina a
dualidade pela modulação da fase das reflexões
provenientes do dispositivo.
Ambas as técnicas eliminaram os picos indesejáveis
satisfatoriamente, tornando mais fácil a observação das
reflexões. A resolução não foi alterada pela modulação, e
um elevada sensibilidade foi obtida.
Um método para medidas de atenuação, baseado em sistemas
de OLCR, foi apresentado. Se o coeficiente de reflexão for
bem conhecido, o seu uso para medidas em guias de onda,
tais como moduladores eletro-óticos, pode ser bastante
interessante. / [en] Optical Low Coherence Reflectometry (OLCR) is na important
non-destructive method for characterization of optical
waveguides. This work presents a study of the plurality of
solutions that appear with a new configuration, which
places the device out of both arms of the interferometer.
Two techniques were developed to solve this problem. One
of them is based on the correlation of measurements made
with the device in two different positions. The other
technique removes the ambiguity by modulating the phase of
the reflections from the interferometer.
Both techniques have eliminated the undesirable peaks
sucessfully, making the observation of the reflections
more easy. The resolution was not changed by the
modulation, and a high sensitivy was achieved.
A method for attenuation measurements, based on OLCR
systems, was presented. If the reflection coefficient is
well know, its use for measurements of optical waveguides,
such as modulators, could be very interesting.

Identiferoai:union.ndltd.org:puc-rio.br/oai:MAXWELL.puc-rio.br:8877
Date22 August 2006
CreatorsCARLOS HUMBERTO PROLA JUNIOR
ContributorsJEAN PIERRE VON DER WEID
PublisherMAXWELL
Source SetsPUC Rio
LanguagePortuguese
Detected LanguageEnglish
TypeTEXTO

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