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Mechanismen und Größeneffekte von Ermüdungsschädigungen in dünnen Kupfer filmen bei sehr hohen Zyklenzahlen / Mechanism and scaling effects of very high cycle fatigue thin copper films

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Identiferoai:union.ndltd.org:uni-goettingen.de/oai:ediss.uni-goettingen.de:11858/00-1735-0000-001B-23BD-1
Date18 April 2013
CreatorsTrinks, Clemens
ContributorsVolkert, Cynthia Prof. Dr.
Source SetsGeorg-August-Universität Göttingen
Languagedeu
Detected LanguageGerman
TypedoctoralThesis

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