L'essor des applications microélectroniques, qui fonctionnent de plus en plus à des fréquences<br />élevées, nécessite le développement de nouveaux modèles ainsi que des méthodes de mesures adéquates<br />en CEM des circuits intégrés. Les travaux de cette thèse sont consacrés à l'étude, l'optimisation et de la<br />réalisation d'une nouvelle cellule TEM (Transverse ElectroMagnetic) ainsi qu'à l'application du modèle ICEM<br />(I ntegrated Circuit Electromagnetic Model). Après une première partie consacrée à l'introduction des différentes méthodes de mesures CEM des composants électroniques et des différents modèles de circuits intégrés, nous présentons les outils théoriques et expérimentaux utilisés pour nos travaux. Ces derniers contribuent, d'une part, à la mise au point technologique et, d'autre part, à l'optimisation de la structure de la cellule.<br />Les principales contributions concernent l'optimisation électromagnétique d'une cellule TEM à support rotatif, présentant notamment une fréquence de coupure proche de 3 GHz et une impédance caractéristique de 50Ω.<br />La technique développée dans la thèse constitue une amélioration de solutions existantes visant à élargir la bande de fréquence couverte par les cellules TEM. Un aménagement particulier de la cellule est également imaginé en vue de détecter l'orientation du circuit offrant le couplage maximum. Les phénomènes parasites de l'environnement de mesures ont été affranchis grâce au développement d'une cloche de protection associée au support rotatif lequel permet ainsi d'améliorer la précision lors de la localisation des sources rayonnantes du composant sous test.<br />Les performances de la nouvelle cellule TEM validées par la mesure expérimentale confirment la pertinence des solutions proposées pour à la fois caractériser et localiser les sources d'émission des circuits intégrés.