Διάφορες μορφές κωδικοποίησης Huffman έχουν προταθεί για τη συμπίεση των δεδομένων δοκιμής που χρησιμοποιούνται για τον έλεγχο της ορθής λειτουργίας ολοκληρωμένων συστημάτων μετά την κατασκευή τους. Μεταξύ αυτών η βέλτιστη επιλεκτική κωδικοποίηση Huffman παρουσιάζει διάφορα πλεονεκτήματα. Η υιοθέτηση διαφορετικής τεχνικής ελέγχου της ορθής λειτουργίας του ολοκληρωμένου συστήματος μετά την κατασκευή του και στο πεδίο της εφαρμογής αυξάνει το κόστος του συστήματος. Για το λόγο αυτό στην εργασία αυτή διερευνούμε τη δυνατότητα χρησιμοποίησης της βέλτιστης επιλεκτικής κωδικοποίησης τόσο μετά την κατασκευή του ολοκληρωμένου συστήματος όσο και στο πεδίο της εφαρμογής. Τα συστήματα που μας ενδιαφέρουν είναι τα ενσωματωμένα συστήματα πραγματικού χρόνου. Για το λόγο αυτό μελετάμε καταρχήν τα χαρακτηριστικά που πρέπει να έχει η τεχνική ελέγχου ορθής λειτουργίας στο πεδίο της εφαρμογής ανάλογα με τις απαιτήσεις ενός ενσωματωμένου συστήματος. Σε κάθε περίπτωση μελετάμε το κόστος υλοποίησης της τεχνικής ελέγχου τόσο σε κυκλώματα, σχεδιάζοντάς τα σε Verilog, όσο και στο βαθμό συμπίεσης των δεδομένων δοκιμής, κάνοντας εξομοιώσεις σε C. / One-time factory testing of VLSI component after fabrication is insufficient in the deep submicron area. The products must be tested periodically in the field of application. Due to the complexity of the Systems on a Chip (SOCs), huge amounts of test data are required. However in many embedded systems the capacity of the available memory is a limited resource. In Automatic Test Equipment (ATE) based factory testing in order to reduce the memory requirements of the ATE and the time required to transfer the test data from ATE into the chip (and hence the test application time) various test set compression techniques have been proposed. In this paper we investigate the required enhancements so that an Optimal Selective Huffman Coding based test-set compression technique can be used for periodic testing in the field. The requirements of various types of periodic testing are examined depending on the criticality of the application running in embedded systems.