Aujourd'hui les systèmes embarqués sont partout et requièrent de plus en plus de puissance de calcul. Mais, l'évolution des technologies a un impact négatif sur la fiabilité. En particulier, il est prévu une hausse du nombre de fautesf intermittentes dans les technologies à venir. Cependant, nous ne bénéficions pas d'étude expérimentale détaillée pour ce type de faute. Or, pour tenter de se prémunir de ces fautes, il est important de comprendre leur comportement, ainsi que leur impact sur le système et les applications. Pour cela, nous avons défini une plateforme expérimentale capable d'observer des erreurs intermittentes. Nous avons ainsi, pu confirmer que les erreurs intermittentes peuvent être observées très tôt avant la période d'usure du circuit. De plus, ces erreurs apparaissent en rafale et seul l'arrêt des processeurs semble les stopper. Nous confirmons ainsi, qu'il est nécessaire de mettre en place des méthodes de détection en ligne des erreurs intermittentes dans les circuits intégrés très submicroniques. Cependant, aucune solution proposée dans la littérature ne convient à la fois aux erreurs intermittentes et aux architectures multiprocesseur. Ainsi, nous avons développé une méthode de test périodique répondant à ces contraintes. En particulier, nous avons montré que le test ne doit pas nécessairement être prioritaire devant les applications. Cela nous a permis de conclure qu'une politique d'ordonnancement des tests pseudo-périodiques, prenant en compte les processeurs au repos et la priorité des tâches, offrent le meilleur compromis entre performance et probabilité de détection.