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EFEITOS DA ABERRAÇÃO CROMÁTICA LONGITUDINAL E DA TEMPERATURA SOBRE O ESPALHAMENTO RAMAN CONFOCAL DE GRAFENO / EFFECTS OF LONGITUDINAL CHROMATIC ABERRATION AND OF THE TEMPERATURE ON RAMAN SCATTERING CONFOCAL OF GRAPHENELeite, Girlane Castro Costa 29 September 2011 (has links)
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Previous issue date: 2011-09-29 / Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior / Raman scattering phenomena has far been widely used as an experimental methodology for probing materials properties. In the last decade, the combination of microscopy and spectroscopy aspects has been largely used in the study of materials in low dimensions, especially carbon nanotubes and graphene. Graphene is a two-dimensional material that has one hexagonal structure. Due to its excellent crystalline quality, this material has shown great prospects of strategic applications in the near future. The majority of the studies reported on graphene are carried out by using confocal microscopes, which relies on the longitudinal chromatic aberration. This optical effect is related to intrinsic limitation of any lens to focus light with different wavelength at the same focal plane. In this work, we examine the effect of longitudinal chromatic aberration and also the effect of irradiance on the Raman spectra of graphene. Consistent with the results of literature, we found that the intensity of the Raman signal for the G mode increases linearly with the number of layers, up to the limit of six layers identified in our samples. We also found a strong dependence of the Raman intensity with longitudinal chromatic aberration. Owing to this effect, the intensity of the G peak was underestimated in about 20%, while the intensity of G peak appeared 56% below the real value. Measurement performed to confirm the effect of longitudinal chromatic aberration showed an aberration of 1,8 μm/eV for Raman scattering and 2,0 μm/eV by using pure reflectometry. Measurements in graphene with defects revealed a strong dependence of peak frequency with focal position and laser power as well. Changes of 6 cm-1 in G' mode was observed for laser power between 44 e 175 μW. / A microscopia Raman é uma das técnicas experimentais mais versáteis e tem sido muito utilizada no estudo das propriedades físicas de materiais. A microscopia confocal em combinação com a espectroscopia Raman tem levado a obtenção de imagens de estruturas em escala nanométrica. Estas ferramentas conjugadas têm sido amplamente utilizadas no estudo de propriedades de materiais em baixas dimensões, como nanotubos de carbono e grafeno. O grafeno é um material bidimensional que possui uma estrutura hexagonal. Devido à sua excelente qualidade cristalina, esse material tem apresentado grandes perspectivas de aplicações estratégicas no futuro próximo. Neste trabalho foram discutidos os efeitos da aberração cromática longitudinal e o efeito da irradiância sobre espectros Raman do grafeno obtidos por um microscópio Raman confocal. Consistente com os resultados da literatura, a intensidade do sinal Raman para o modo G aumentou linearmente com o número de camadas, até o limite de 6 camadas identificadas nas nossas amostras. Os resultados obtidos mostraram forte dependência da intensidade do sinal com a aberração cromática longitudinal. Por causa deste efeito, a intensidade do pico G foi subavaliada em cerca de 20%, enquanto a intensidade do pico G foi subavaliada em aproximadamente 56%. Medidas realizadas para confirmar o efeito da aberração cromática longitudinal mostraram uma aberração de 1,8 μm/eV para o espalhamento Raman e 2,0 μm/eV para o espalhamento Rayleigh. Medidas em grafeno com defeitos revelaram a grande dependência na posição dos picos com posição focal ou com a potência do laser. Mudanças de 6 cm-1 no modo G foram observadas para potências entre 44 e 175 μW.
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