CoordenaÃÃo de AperfeiÃoamento de Pessoal de NÃvel Superior / A pesquisa teve como objetivo correlacionar diferentes defeitos e suas criticidades, em corpos de prova de aÃo ASTM A516 grau 60 para ensaio CTOD, cujos detalhes foram feitos no metal de base, no metal de solda e na zona termicamente afetada de uma junta soldada, com os sinais de emissÃo acÃstica obtidos durante os ensaios. Quatro mÃtodos de anÃlise fractal foram utilizados: anÃlise re-escalada de Hurst (R/S), dimensÃo de contagem de caixas, dimensÃo de cobetura mÃnima e anÃlise de flutuaÃÃo sem tendÃncias (DFA). Um nÃmero mÃnimo de pontos necessÃrios para a obtenÃÃo dos expoentes associados a cada mÃtodo de anÃlise foi determinado para os vÃrios sinais, bem como o efeito de diferentes mÃtodos de filtragem nesses expoentes. Verificou-se que nenhum dos mÃtodos isoladamente conseguiu caracterizar os defeitos nem os regimes de carregamento. Entretanto, utilizando-se representaÃÃes bidimensionais de todos os expoentes juntamente com o desvio padrÃo dos sinais foi possÃvel estabelecer, de forma satisfatÃria, uma caracterizaÃÃo hierÃrquica dos defeitos e regimes de carregamento. / The research aims to correlate different defects and their criticidades in specimens of ASTM A516 grade 60 CTOD test, details of which were made in the base metal in the weld metal and heat affected zone of welded joint with acoustic emission signals obtained during the tests. Four fractal analysis methods were applied: re-scaled analysis Hurst (R / S), the box counting dimension, cobetura minimum dimension and analysis of fluctuation without bias (DFA). A minimum number of points required to obtain the exponent associated with each method of analysis was determined for the various signals and the effect of different filtering methods such exponents. It was found that none of the methods alone failed to characterize or defects charging schemes. However, using two-dimensional representations of all the exponents with the standard deviation of signals could be made in a satisfactory way, a hierarchical characterization of defects and charging systems.