Les circuits reconfigurables (Field Programmable Gate Arrays - FPGAs) sont largement utilisés dans divers domaines d'application en raison de leur flexibilité, de leur haute densité d'intégration, de leur niveau de performance et du faible coût de développement associé. Toutefois, leur grande sensibilité aux défauts dus aux rayonnements électromagnétiques tels que les "Single Event Effets" (SEE), est un défi qui doit être abordée pendant la conception du système. Ces SEE sont une préoccupation majeure dans la sécurité et pour les systèmes critiques tels que les systèmes de l'automobile et de l'avionique. En général, la plupart des FPGA d'aujourd'hui ne sont pas conçus pour fonctionner dans ces environnements difficiles, sauf pour les circuits spécifiques qui ont été durcies par construction au niveau du processus de fabrication. Ces circuits ont un surcoût très élevé et des performances moindres, ce qui les rend moins intéressant que leur équivalent non protégé. Le projet ARDyT vise à développer une architecture FPGA fiable à faible coût avec une suite d'outils de conception, offrant un environnement complet pour la conception d'un système tolérant aux fautes. Ce travail de thèse présente l'architecture du FPGA ARDyT, qui intègre des stratégies de prises en charge des fautes adaptées aux différents éléments de l'architecture. L'un des principaux objectifs du projet ARDyT est de gérer les changements de valeurs multiples (multi bit upsets (MBUs)) dans le flux binaire de configuration du FPGA. Ces stratégies de tolérance aux fautes pour protéger les ressources logiques et le flux binaire de configuration sont discutées en détail. Une architecture spécifique du bloc logique élémentaire configurable est proposée afin de simplifier la stratégie de prise en compte des fautes dans les ressources logiques. Un nouveau système de correction d'erreur intégrée (3-Dimensional Hamming - 3DH) est proposé pour gérer les MBU dans le flux binaire de configuration. L'ensemble de la stratégie de gestion des fautes est implémenté dans l'architecture au travers d'un manager de la fiabilité centralisée nommée R3M (Run-time Reconfigurable Resource Manager), et d'une suite d'outils adaptée. / Reconfigurable Field Programmable Gate Arrays (FPGAs) are extensively employed in various application domains due to their flexibility, high-density functionality, high performance and low-cost development compared to ASICs (Application Specific Integrated Circuits). However, the challenge that must be tackled during system design is their high susceptibility to the radiation induced faults such as Single Event Effects (SEEs). These radiation induced faults are a major concern in safety and mission critical systems such as automotive and avionics systems. In general, most of today’s COTS FPGAs are not designed to work under these harsh environments, except for specific circuits that have been radiation-hardened at the fabrication process level, but at a very high cost overhead, which makes them less interesting from an economic and performance point of view. The project ARDyT is aimed to develop a low-cost reliable FPGA architecture with supporting EDA tool-suite that offers a complete environment for a fault tolerant system design. This thesis work presents the proposed ARDyT FPGA architecture, which incorporates appropriate fault mitigation strategies at different levels. One of the main objectives of ARDyT project is to handle multi-bit upsets (MBUs) in the configuration bistream. Fault mitigation strategies to protect logic resources and configuration bitstream are discussed in detail. A fault-aware customized configurable logic block architecture is proposed to support logic resource fault mitigation strategy. A new built-in 3-Dimensional Hamming (3DH) error correcting scheme is proposed to handle MBUs in the configuration bitstream. The additional features introduced in this architecture ensure complete reliability with the help of centralized reliability manager named R3M (Run-time Reconfigurable Resource Manager), corresponding tool-suite and increased flexibility in the design.