Orientador: Jose J. Lunazzi / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T23:30:20Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Sthel_MarceloSilva_M.pdf: 1356584 bytes, checksum: 48674fa155634798a18cb5c8b5f5d806 (MD5) Previous issue date: 1987 / Resumo: Através da compreenção e do estudo de um campo luminoso espalhado por uma superfície rugosa, quando sobre a mesma incide luz coerente, podemos determinar um parâmetro chamado desvio médio quadrático das alturas da superfície em questão, definindo-o como a rugosidade. Obtivemos para isto um sistema mais prático com possibilidade direta de acesso de dados ao microcomputador / Abstract: The measurement of roughness as an statistical mean over the height profile of a rough surface ( R.M.S ) was achieved through the knowledge and understanding of the light field that is scattered under coherent light illumination, obtaining an improved system for the detected technique. A microcomputer can now easily perform the data processing / Mestrado / Física / Mestre em Física