Made available in DSpace on 2014-06-12T17:39:34Z (GMT). No. of bitstreams: 2 arquivo6924_1.pdf: 1975705 bytes, checksum: ffd8ccef71870c3db21ddf0c65b43eba (MD5) license.txt: 1748 bytes, checksum: 8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33 (MD5) Previous issue date: 2006 / Os métodos numéricos têm sido uma alternativa muito atrativa na análise e solução de problemas de campos eletromagnéticos. Estes são aplicados nos mais variados tipos de problemas, envolvendo geometrias complexas, composição heterogênea de material e diversidades de condições de fronteira. Esta pesquisa destina-se ao estudo da modelagem de condutores finos utilizando o método numérico TLM (Transmission Line Modeling Method) para a análise de problemas relacionados à Compatibilidade Eletromagnética. O trabalho é dividido em três etapas. Na primeira delas, é dedicada uma atenção à fundamentação teórica do método TLM, abordando, suas versões uni, bi e tridimensionais. Em uma segunda etapa, são apresentados modelos, encontrados na literatura, que tratam dos nós condutores, os quais possibilitam a modelagem de elementos condutores finos em malhas de grande dimensão. Finalmente, são realizadas análises de casos para validação e verificação das potencialidades do modelo de nó condutor estudado. Os resultados de simulação obtidos são comparados com o modelo do condutor de curtocircuito, amplamente utilizado no método TLM