O presente trabalho tem como objetivo a avaliação do controle interno do teste em sistemas baseados em núcleos de hardware. No intuito de analisar os problemas e as exigências do teste em SOCs, alguns sistemas são aqui criados utilizando-se a descrição VHDL de um controlador de teste, alguns circuitos benchmarks e uma descrição de um microcontrolador 8051 auto-testável. Problemas referentes ao controle de diferentes estratégias de teste (extemo, scan, BIST, etc) são abordados e formas de resolver estes problemas são descritas. Também abordam-se problemas referentes ao teste em nível de sistema, como por exemplo, requisitos de memória e conexões. Mudanças são sugeridas e implementadas no controlador de teste, a fim de melhorar seu desempenho e flexibilizar seu uso em diversas circunstâncias distintas em termos de requisitos de estratégias de teste. / This work aims at evaluating the internai test control in core-based systems. In order to analyze problems and requirements of testing core-based systems, some systems are herein built making use of a VHDL description of a test controller, of some benchmark circuits and of a description of a self-testing 8051 microcontroller. Problems related to controlling different test strategies (externai testing, scan, BIST, etc) are covered and ways ofsolving those problems are described. Problems related to the system levei testing, such as memory and connection requirements, are also discussed. Changes are proposed and implemented into the test controller, in order to enhance its performance and make its use more flexible to face many different situations in terms o f required test strategies.

O presente trabalho tem como objetivo a avaliação do controle interno do teste em sistemas baseados em núcleos de hardware. No intuito de analisar os problemas e as exigências do teste em SOCs, alguns sistemas são aqui criados utilizando-se a descrição VHDL de um controlador de teste, alguns circuitos benchmarks e uma descrição de um microcontrolador 8051 auto-testável. Problemas referentes ao controle de diferentes estratégias de teste (extemo, scan, BIST, etc) são abordados e formas de resolver estes problemas são descritas. Também abordam-se problemas referentes ao teste em nível de sistema, como por exemplo, requisitos de memória e conexões. Mudanças são sugeridas e implementadas no controlador de teste, a fim de melhorar seu desempenho e flexibilizar seu uso em diversas circunstâncias distintas em termos de requisitos de estratégias de teste. / This work aims at evaluating the internai test control in core-based systems. In order to analyze problems and requirements of testing core-based systems, some systems are herein built making use of a VHDL description of a test controller, of some benchmark circuits and of a description of a self-testing 8051 microcontroller. Problems related to controlling different test strategies (externai testing, scan, BIST, etc) are covered and ways ofsolving those problems are described. Problems related to the system levei testing, such as memory and connection requirements, are also discussed. Changes are proposed and implemented into the test controller, in order to enhance its performance and make its use more flexible to face many different situations in terms o f required test strategies.

O presente trabalho tem como objetivo a avaliação do controle interno do teste em sistemas baseados em núcleos de hardware. No intuito de analisar os problemas e as exigências do teste em SOCs, alguns sistemas são aqui criados utilizando-se a descrição VHDL de um controlador de teste, alguns circuitos benchmarks e uma descrição de um microcontrolador 8051 auto-testável. Problemas referentes ao controle de diferentes estratégias de teste (extemo, scan, BIST, etc) são abordados e formas de resolver estes problemas são descritas. Também abordam-se problemas referentes ao teste em nível de sistema, como por exemplo, requisitos de memória e conexões. Mudanças são sugeridas e implementadas no controlador de teste, a fim de melhorar seu desempenho e flexibilizar seu uso em diversas circunstâncias distintas em termos de requisitos de estratégias de teste. / This work aims at evaluating the internai test control in core-based systems. In order to analyze problems and requirements of testing core-based systems, some systems are herein built making use of a VHDL description of a test controller, of some benchmark circuits and of a description of a self-testing 8051 microcontroller. Problems related to controlling different test strategies (externai testing, scan, BIST, etc) are covered and ways ofsolving those problems are described. Problems related to the system levei testing, such as memory and connection requirements, are also discussed. Changes are proposed and implemented into the test controller, in order to enhance its performance and make its use more flexible to face many different situations in terms o f required test strategies.