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Contributions to low energy consumption in digital circuitsBühler, Markus. January 2000 (has links)
Stuttgart, Univ., Diss., 2000.
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Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen SchaltungenMeyer, Volker Hans-Walther. January 1900 (has links) (PDF)
Bremen, Univ., Diss., 2003. / Computerdatei im Fernzugriff.
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Integration von Testbarkeitsaspekten in die High-Level Synthese /Nagel, Christof. January 1995 (has links)
Universiẗat-Gesamthochsch., Diss.--Paderborn, 1995.
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Test produktionsbedingter Laufzeitfehler in hochintegrierten, digitalen SchaltungenMeyer, Volker Hans-Walther. Unknown Date (has links) (PDF)
Universiẗat, Diss., 2003--Bremen.
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