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Microstructural effects on stress in thin filmsWohlschlögel, Markus Albin, January 2008 (has links)
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2008.
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Spannungen und Verformungen bei Bewehrter ErdeSondermann, Wolfgang, January 1983 (has links)
Thesis--Brunswick. / In Periodical Room.
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Spannungsberechnung in Silos mit der CharakteristikenmethodeWilms, Harald, January 1984 (has links)
Thesis--Brunswick. / In Periodical Room.
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Mikrostrukturelle Einflüsse auf das R-Kurvenverhalten bei SiliciumnitridkeramikenFünfschilling, Stefan January 2009 (has links)
Zugl.: Karlsruher Inst. für Technologie, Diss., 2009 / Hergestellt on demand. - Zusätzliches Online-Angebot unter http://uvka.ubka.uni-karlsruhe.de/shop/isbn/978-3-86644-470-6
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Field effect transistor based CMOS stress sensors /Dölle, Michael. January 2006 (has links)
Zugl.: Freiburg (Breisgau), University, Diss., 2006.
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Simulation of strain-induced and defect-controlled self-organization of nanostructuresWalther, Markus January 2008 (has links)
Zsfassung in dt. Sprache. - Würzburg, Univ., Diss., 2008
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Stress and microstructure of sputter deposited thin copper and niobium filmsOkolo, Brando Chidi, January 2003 (has links)
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003.
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In situ tensile testing at the limits of x-ray diffraction a new synchrotron based technique /Böhm, Jochen. January 2004 (has links)
Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2004.
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Berechnung von Temperatur und Spannung in Massenbeton infolge Hydratation.Marx, Walter. January 1987 (has links)
Zugl.: Stuttgart, Universiẗat, Diss., 1986. / Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 1986.
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Mechanical stresses upon phase transitionsPedersen, Tom Peder Leervad. Unknown Date (has links) (PDF)
Techn. Hochsch., Diss., 2003--Aachen.
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