Os métodos para resolução de Problemas Inversos aplicados a dados experimentais (Regularização, Bayesianos e Máxima Entropia) foram revistos. O procedimento de Mínimos Quadrados com Regularização por Mínima Variância (MQ-RMV) foi desenvolvido para resolução de Problemas Inversos lineares, tendo sido aplicado em: a) espectros unidimensionais simulados; b)determinação da secção de choque ANTPOT.34 S (, xn) a partir de yield de bremsstrahlung; c)análise da radiação de aniquilação elétron-pósitron em alumínio de experimento de coincidência com dois detetores semicondutores. Os resultados são comparados aos obtidos por outros métodos. / The methods used to solve inverse problems applied to experimental data (Regularization, Bayesian and Maximum Entropy) were revised. The Least-Squares procedure with Minimum Variance Regularization (LS-MVR) was developed to solve linear inverse problems, being applied to: a)simulated one-dimensional histograms; b) 34S (, xn) cross-section determination radiation in Aluminum from coincidence experiments with two semiconductor detectors. The results were compared to that obtained by other methods.

Os métodos para resolução de Problemas Inversos aplicados a dados experimentais (Regularização, Bayesianos e Máxima Entropia) foram revistos. O procedimento de Mínimos Quadrados com Regularização por Mínima Variância (MQ-RMV) foi desenvolvido para resolução de Problemas Inversos lineares, tendo sido aplicado em: a) espectros unidimensionais simulados; b)determinação da secção de choque ANTPOT.34 S (, xn) a partir de yield de bremsstrahlung; c)análise da radiação de aniquilação elétron-pósitron em alumínio de experimento de coincidência com dois detetores semicondutores. Os resultados são comparados aos obtidos por outros métodos. / The methods used to solve inverse problems applied to experimental data (Regularization, Bayesian and Maximum Entropy) were revised. The Least-Squares procedure with Minimum Variance Regularization (LS-MVR) was developed to solve linear inverse problems, being applied to: a)simulated one-dimensional histograms; b) 34S (, xn) cross-section determination radiation in Aluminum from coincidence experiments with two semiconductor detectors. The results were compared to that obtained by other methods.