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Solu??o do problema inverso da tomografia por imped?ncia el?trica utilizando o simulated annealing : uma nova abordagem / Image reconstruction using simulated annealing in electrical impedance tomography: a new approachMartins, Jefferson Santana 26 January 2016 (has links)
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Previous issue date: 2016-01-26 / Image reconstruction in electrical impedance tomography (EIT) deals with an
ill-posed and nonlinear inverse problem. It intends to minimize the difference between
simulated (virtual) object data and data from a non simulated (real) object. In this
paper, a new approach to the Simulated Annealing method applied to reconstruction
of EIT images is described. The main advantage in this approach is that all
conductivity parameters are updated simultaneously. Other methods that employ
Simulated Annealing to the problem of EIT evaluate each conductivity parameter
individually resulting in high computational cost. The algorithm was tested both with
computationally generated data and with measurements performed on a physical
simulation tank. In both cases, the method was able to make data inversion,
determining the position, the dimensions and the conductivity of materials in an
opaque object plane. / O problema de reconstru??o da tomografia por imped?ncia el?trica (TIE) ? um
problema de otimiza??o inverso, n?o linear e mal-condicionado, no qual se objetiva
minimizar a diferen?a entre dados medidos e calculados atrav?s de um modelo
num?rico. No presente trabalho, ? descrita uma nova abordagem do m?todo de
recozimento simulado aplicado ? reconstru??o de imagens de TIE. A principal
vantagem do algoritmo apresentado ? que todos os par?metros de condutividade do
dom?nio s?o atualizados conjuntamente. Outros m?todos que empregam o
recozimento simulado para a solu??o do problema da TIE avaliam individualmente
cada par?metro de condutividade, tendo, por isso, grande custo computacional. O
m?todo proposto foi testado com dados gerados computacionalmente e com
medidas realizadas em um tanque de simula??o f?sica. Em ambos os casos, ele
p?de fazer a invers?o dos dados, sendo capaz de determinar a posi??o, as
dimens?es e a condutividade de diferentes materiais em um plano transverso de um
objeto opaco.
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