L’augmentation des débits des réseaux WDM impose des contraintes de plus en plus restrictives sur les composants optiques qui les constituent. La maîtrise rigoureuse des phénomènes tels que la dispersion chromatique ou la sensibilité à la polarisation prend une importance capitale. Dans le cas des filtres optiques, la combinaison de la réduction de la bande passante et de l'accentuation des pentes tend à faire apparaître des effets auparavant négligeables. La société Yenista Optics rencontre des difficultés à contrôler la perte dépendante de la polarisation (PDL) de ses filtres au cours du processus de fabrication. L’objectif de cette thèse est de définir une méthode permettant de caractériser correctement un filtre optique dit ultrafin, c'est à dire dont la bande passante est de l'ordre de la dizaine de picomètres et les pentes de l'ordre de plusieurs centaines de dB par nanomètre. / The increasing bit rate of WDM networks strengthens the constraints on the optical devices which constitute them. Strict monitoring of phenomena such as chromatic dispersion and polarization sensitivity becomes critical. In the case of optical filters, bandwidth reduction combined with steeper roll-offs unveil effects which were previously negligible. The Yenista Optics company encounters difficulties to control the polarization dependent loss of its optical filters during the manufacturing process. The goal of this thesis is to define a method which allows to accurately characterize polarization dependent loss of ultra-narrowband filters, that is filters whose the bandwidth is a few tens of picometers and the steepness is several hundreds of decibels per nanometer.