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Spelling suggestions: "subject:"MOS (éelectronique)"" "subject:"MOS (éélectronique)""

1

Modélisation distribuée des transistors MOS submicroniques /

Toutain, Sophie. January 1989 (has links)
Th.--Microélectronique--Paris--ENST, 1989. / Bibliogr. p. 229-234.
MOS (électronique)
2

ETUDE DES EFFETS DES IRRADIATIONS NEUTRON SUR DES STRUCTURES MOS TECHNOLOGIE N-MOS, PAR SPECTROSCOPIE DLTS MESURES CAPACITIVES /

Ahaitouf, Abdelaziz. CHARLES, JEAN PIERRE.. January 1999 (has links) (PDF)
Thèse de doctorat : SCIENCES ET TECHNIQUES : Metz : 1999. / 1999METZ033S. 73 ref.
3

Etude de caractérisation de matériaux diélectriques de grille à forte permittivité pour les technologies CMOS ultimes

Chang, Youjean Ducroquet, Frédérique. January 2004 (has links)
Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : INSA LYON : 2003. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 185-204.
4

ANALYSE DES DEFAUTS INDUITS PAR IRRADIATIONS IONISANTE ET A EFFETS DE DEPLACEMENT DANS DES STRUCTURES MCT (MOS CONTROLLED THYRISTOR) A PARTIR DE MESURES ELECTRIQUES ET PAR SIMULATION /

Haddi, Ahmed. Charles, Jean-Pierre. January 1999 (has links) (PDF)
Thèse de doctorat : SCIENCES ET TECHNIQUES : Metz : 1999. / 1999METZ030S. 60 ref.
5

Contribution à la conception d'un circuit analogique programmable en technologie CMOS conception et caractérisation d'une cellule de calcul analogique /

Aubert, Alain Chante, Jean-Pierre January 2005 (has links)
Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2005. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 131-134.
6

Macro-modélisation des structures MOS "haute tension" intégrées avec prise en compte de l'auto-échauffement

Canepari, Anna Chante, Jean-Pierre January 2007 (has links)
Thèse doctorat : Microélectronique : Villeurbanne, INSA : 2006. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. à la fin de chaque chapitre.
7

Caractérisations électriques des structures MOS à nanocristaux de Ge pour des applications mémoires non volatiles

Kanoun, Mehdi Souifi, Abdelkader. January 2005 (has links)
Thèse doctorat : Microélectronique : Villeurbanne, INSA : 2004. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. à la fin de chaque chapitre.
8

Contribution à l'étude de la dégradation de films minces et ultra-minces de SiO2 de structures MOS soumises à des contraintes électriques et à la caractérisation par spectroscopie tunnel inélastique de jonction Al-SiO2-Si thèse pour le doctorat en sciences spécialité Electronique /

Petit, Christian Meinertzhagen, Anne Salace, Guy January 2005 (has links) (PDF)
Reproduction de : Thèse de doctorat : Electronique : Reims : 2004. / Titre provenant de l'écran titre. Bibliogr. p. 187-191.
9

Caractérisations électriques et physico-chimiques des oxydes sur Carbure de Silicium application à une technologie MOSFETs /

Ekoue, Adamah Guillot, Gérard January 2004 (has links)
Thèse de doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Villeurbanne, INSA : 2002. / Titre provenant de l'écran-titre. Bibliogr. p. 221-230.
10

Etude d'électrodes métalliques à base de tungstène, préparées par MOCVD, pour empilement de grille CMOS de technologie sub-65 nm

Allegret, Stéphane Hollinger, Guy. January 2006 (has links) (PDF)
Thèse doctorat : Dispositifs de l'Electronique Intégrée : Ecully, Ecole centrale de Lyon : 2006. / 107 réf.

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