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Investigação de ruido e sensibilidade em MAGFETs e avaliação do seu emprego no controle de emissão eletromagnetica em circuitos integrados de potencia / Investigation of noise and sensintivity in MAGFETs and its aplicationin the control of electromagnetic emissions in power integrated circuits

Castaldo, Fernando Cardoso 06 March 2005 (has links)
Orientador: Carlos Alberto dos Reis Filho / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Eletrica e de Computação / Made available in DSpace on 2018-08-04T14:40:24Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Castaldo_FernandoCardoso_D.pdf: 30688674 bytes, checksum: 38148b8964d0d87ceacc943afb795fbc (MD5) Previous issue date: 2005 / Resumo: Este trabalho aborda a questão da compatibilidade eletromagnética em circuitos chaveados integrados, tipicamente conversores DC-DC dedicados. Neste sentido, propõe-se uma técnica de controle da emissão eletromagnética baseada no sensoriamento do campo magnético próximo através da utilização de transistores MOS do tipo split-drain. Desta forma, pode-se integrar conjuntamente o transistor de potência e o split-drain. O sinal produzido pelo sensor pode ser enviado a um circuito de acionamento que controla a derivada da corrente no transistor de potência, limitando, desta forma, a emissão gerada. Entretanto, o ruído associado ao transistor split-drain limita severamente a resolução do sensor. Estudos realizados indicaram a existência de uma corrente de ruído em excesso observada através de medidas de correlação de ruído, denominada corrente de ruído transversal. Esta corrente limita a relação sinal-ruído do sensor magnético, principalmente no modo diferencial, com impacto direto na resolução do sistema detector. A partir do entendimento dos mecanismos de geração de ruído investigados, circuitos detectores de campo magnético que atendam determinada resolução podem ser projetados, viabilizando-se assim, a implementação de sensores de emissão eletromagnética / Abstract: This work deals with the electromagnetic compatibility (EMI) issues aimed to power integrated circuits, typically DC-DC converters. An EMI controlling approach based on magnetic near field measurements using CMOS split-drain transistors (MAGFETS) as magnetic sensors is investigated. Monolithic applications can be envisaged comprising the power circuit and the magnetic sensor. The detected signal can be sent to a slew-rate-based controlling driver that sets the electromagnetic emissions below a specific leveI. However, the electronic noise associated with the split-drain transistor affects the sensor resolution. In this sense, it was observed through correlation measurements an excess noise current associated with the split-drain transistor, called transversal noise current. A noise model taking into account the transversal noise current is proposed, allowing the implementation of magnetic sensors featuring a specific resolution aimed to electromagnetic emissions detectors / Doutorado / Eletrônica, Microeletrônica e Optoeletrônica / Doutor em Engenharia Elétrica

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